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Wednesday, February 7, 2007 - 3:15pm

Ekaterina Lüttjohan (Univ. Duisburg-Essen):

"Molekular-Dynamik-Simulationen in der Rasterkraftmikroskopie"

Abstract. Rasterkraftmikroskopie (AFM) findet Verwendung zur Abbildung von Oberflächen mit Nanometerauflösung. Dabei ergibt sich die Frage, wie man die gewonnen Bilder interpretieren kann. Zur Klärung dieses Problems wird das System aus AFM-Spitze und Probe mit Hilfe der Molekulardynamik simuliert. Als Wechselwirkungspotentiale werden das Lennard-Jones- und das Coulomb-Potential benutzt. Es zeigt sich bei der Simulation eine Energiedissipation im System beim non-contact-Modus des AFM. Die erzielten Ergebnisse können teilweise die Dissipationsmechanismen (Energiehysterese) erklären.